FCLIP卡扣式融合成像器校軸儀是一個計算機化的測試平臺，用于測試卡扣式融合成像器、熱像儀和夜視儀。FCLIP能夠測量決定融合成像器的像移的幾個校軸參數。

FCLIP校軸儀設計思路是將位于可變距離標準靶標投影到被測成像器的物方，然后分析兩個成像通道產生的圖像。具體投影圖像由BTG寬帶目標發生器產生，由CRI反射型平行光管投影到被測成像器上的物方。然后，用IM50可視相機采集圖像并

 FCLIP卡扣式融合成像器校軸儀是一個計算機化的測試平臺，用于測試卡扣式融合成像器、熱像儀和夜視儀。FCLIP能夠測量決定融合成像器的像移的幾個校軸參數。

       FCLIP校軸儀設計思路是將位于可變距離標準靶標投影到被測成像器的物方，然后分析兩個成像通道產生的圖像。具體投影圖像由BTG寬帶目標發生器產生，由CRI反射型平行光管投影到被測成像器上的物方。然后，用IM50可視相機采集圖像并發送到計算機。最后利用軟件進行圖像分析。

       FCLIP校軸儀是充分利用現代計算機技術成果的新一代測試平臺。這種測量方法大大提高了校軸偏差的測量精度，縮短了測量時間，消除了人為的主觀誤差，實現了測試結果的保存。

該設備被認為是近乎標準的最終質量評測工具或制造/維修輔助工具。

       FCLIP 是模塊化系統，由以下模塊組成:BTG 目標發生器，CRI760 離軸反射式光管，MP1913 機械平臺，IM50 相機，BP 導軌，便攜式計算機，BOR 計算程序。

CLIP校軸儀可以測量以下參數：

1. 夜視通道偏角(輸入光學系統光軸與夜視通道輸出光學系統光軸之間的夾角)

2. 熱成像通道偏角(輸入光學系統光軸與熱成像通道光軸之間的夾角)。

3. 雙通道校軸誤差(夜視通道光軸和熱成像通道光軸之間的夾角)

4. 可見光通道分辨率(最小可分辨目標的空間角頻率)

5. 熱成像通道分辨率(最小可分辨目標的空間角頻率)

6. 雙通道旋轉角度差(可見光通道相對于熱成像通道的旋轉角)

7. 可見光通道的旋轉角度(可見光通道生成的圖像相對于瞄準鏡生成的圖像的旋轉角)

8. 熱成像通道的旋轉角度(熱成像通道生成的圖像相對于瞄準鏡生成的圖像的旋轉角)

9. 夜視通道的軸對準誤差(無限遠時夜視通道的光軸與聚焦有限遠目標時同一光軸之間的夾角)

10. 熱成像通道的軸對準誤差(無限遠時熱成像通道的光軸與聚焦有限遠目標時同一光軸之間的夾角)

FCLIP 校軸儀主要由以下4種配置，每種配置覆蓋不同的測試能力。

FCLIP-A只能測量無限遠目標情況下兩個成像通道的偏轉角。一般假設被測成像器的光學物鏡焦距大于2000mm即可看做是無限遠。因此，可以認為FCLIP-A可以滿足大多數卡扣式成像器的測試需求。

FCLIP-B提供與FCLIP-A相同的測試能力，另外可以測量兩個成像通道的分辨率。這個功能幫助評價被測成像器的成像質量。

FCLIP-C提供與FCLIP-B相同的測試能力，另外可以測量圖像旋轉偏差。

FCLIP-D提供有限遠目標(距離:約50m、100m、200m、400m、1000m和無限遠)時測量兩個成像通道的軸偏差。當測試高性能融合成像器時這種有限遠目標測試是必要的。