Inframet DT系統(tǒng)，紅外熱成像儀測(cè)試系統(tǒng)

工作在中波紅外及長波紅外波段的紅外熱像儀在國家國防及安全部門具有重要的作用，對(duì)于紅外熱像儀的生產(chǎn)商，維修單位，科研院所以及最終用戶等而言，紅外熱像儀的測(cè)試具有重要的意義。因此高技術(shù)的測(cè)試系統(tǒng)可以在生產(chǎn)，維修，培訓(xùn)，選型，科研等方面提供重要的幫助。

Inframet提供一系列不同版本的DT系統(tǒng)是受歡迎的紅外熱成像儀測(cè)試系統(tǒng)儀。 它可以用于實(shí)驗(yàn)室/倉庫條件下的測(cè)試，非常適用于國際市場(chǎng)上提供的所有監(jiān)控類型的紅外熱像儀，以及用于空間應(yīng)用的長焦紅外熱成像儀。 DT系統(tǒng)可以測(cè)量所有重要參數(shù)，其采用垂直配置布局（黑體和靶輪位于平行光管的垂直方向的正上方），垂直化布局設(shè)計(jì)形成了高均勻性的熱輻射投影系統(tǒng)且使得整套系統(tǒng)更加緊湊。

INFRAMET還提供用于測(cè)試紅外熱像儀的其他系統(tǒng)：TAIM,TFEV, SIM, DTR, TCLIP, LAFT, WAP. SAFT。

TAIM是一套特殊版本的DT系統(tǒng)，主要用于測(cè)試紅外瞄準(zhǔn)系統(tǒng)；

TFEV測(cè)溫儀測(cè)試系統(tǒng)是模塊化的專業(yè)測(cè)試系統(tǒng)，專門為發(fā)熱篩查測(cè)溫儀而優(yōu)化。

SIM是一套相對(duì)簡(jiǎn)單且低成本的測(cè)試系統(tǒng)，主要實(shí)現(xiàn)紅外熱像儀的聚焦和分辨率測(cè)量。 SIM可以被視為一個(gè)簡(jiǎn)化版的DT系統(tǒng)。 DT和SIM都是固定式系統(tǒng)，主要用于實(shí)驗(yàn)室/倉庫條件下測(cè)試。

DTR是一套可以看做為使用了透射式平行光管的DT測(cè)試系統(tǒng)的版本，主要用于測(cè)試寬視場(chǎng)紅外熱成像儀。

TCLIP是一套紅外瞄準(zhǔn)鏡快速軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)。

LAFT是一套移動(dòng)測(cè)試站，主要用于在野外/倉庫條件下工作的監(jiān)控型紅外熱像儀基本參數(shù)測(cè)試儀。

WAP是一套便攜式廣角投影系統(tǒng)，設(shè)計(jì)于測(cè)試寬視場(chǎng)的紅外成像儀。 其小尺寸設(shè)計(jì)和輕質(zhì)量結(jié)合是該系統(tǒng)的巨大優(yōu)勢(shì)。

SAFT是一套小型測(cè)試系統(tǒng)，主要用于測(cè)試短焦距的紅外熱像儀。 

非均勻性校準(zhǔn)

所有紅外熱成像儀均必須經(jīng)過工廠校準(zhǔn)，以生成非均勻性補(bǔ)償（NUC）系數(shù)，然后由紅外熱像儀實(shí)時(shí)自動(dòng)運(yùn)算以保持良好的圖像質(zhì)量。 NUC系數(shù)通常基于大面積黑體的圖像來計(jì)算，該黑體在兩種溫度下來充滿被測(cè)試紅外熱像儀的視場(chǎng)：1）高溫在約60℃至約120℃的范圍內(nèi)，并取決于紅外熱成像儀的類型。2）實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度（有時(shí)略微增加到約等于圖像傳感器溫度）。

Inframet提供DAP雙黑體作為紅外熱成像儀非均勻性校準(zhǔn)的低成本高效益解決方案。 DAP雙黑體實(shí)際上是一組兩個(gè)黑體：通常在高溫下操作的TCB黑體和在接近環(huán)境溫度下操作的PBB黑體。 以這種方式，DAP相當(dāng)于兩個(gè)黑體，通常使用兩點(diǎn)NUC，但成本僅略高于典型的TCB黑體。 同時(shí)，實(shí)現(xiàn)了DAP黑體的兩個(gè)發(fā)射器之間的超高精度溫差。