Inframet DT系統(tǒng)，紅外熱成像儀測(cè)試系統(tǒng)

工作在中波紅外及長(zhǎng)波紅外波段的紅外熱像儀在國(guó)家國(guó)防及安全部門(mén)具有重要的作用，對(duì)于紅外熱像儀的生產(chǎn)商，維修單位，科研院所以及最終用戶等而言，紅外熱像儀的測(cè)試具有重要的意義。因此高技術(shù)的測(cè)試系統(tǒng)可以在生產(chǎn)，維修，培訓(xùn)，選型，科研等方面提供重要的幫助。

Inframet提供一系列不同版本的DT系統(tǒng)是受歡迎的紅外熱成像儀測(cè)試系統(tǒng)儀。 它可以用于實(shí)驗(yàn)室/倉(cāng)庫(kù)條件下的測(cè)試，非常適用于國(guó)際市場(chǎng)上提供的所有監(jiān)控類型的紅外熱像儀，以及用于空間應(yīng)用的長(zhǎng)焦紅外熱成像儀。 DT系統(tǒng)可以測(cè)量所有重要參數(shù)，其采用垂直配置布局（黑體和靶輪位于平行光管的垂直方向的正上方），垂直化布局設(shè)計(jì)形成了高均勻性的熱輻射投影系統(tǒng)且使得整套系統(tǒng)更加緊湊。

INFRAMET還提供用于測(cè)試紅外熱像儀的其他系統(tǒng)：TAIM,TFEV, SIM, DTR, TCLIP, LAFT, WAP. SAFT。

TAIM是一套特殊版本的DT系統(tǒng)，主要用于測(cè)試紅外瞄準(zhǔn)系統(tǒng)；

TFEV測(cè)溫儀測(cè)試系統(tǒng)是模塊化的專業(yè)測(cè)試系統(tǒng)，專門(mén)為發(fā)熱篩查測(cè)溫儀而優(yōu)化。

SIM是一套相對(duì)簡(jiǎn)單且低成本的測(cè)試系統(tǒng)，主要實(shí)現(xiàn)紅外熱像儀的聚焦和分辨率測(cè)量。 SIM可以被視為一個(gè)簡(jiǎn)化版的DT系統(tǒng)。 DT和SIM都是固定式系統(tǒng)，主要用于實(shí)驗(yàn)室/倉(cāng)庫(kù)條件下測(cè)試。

DTR是一套可以看做為使用了透射式平行光管的DT測(cè)試系統(tǒng)的版本，主要用于測(cè)試寬視場(chǎng)紅外熱成像儀。

TCLIP是一套紅外瞄準(zhǔn)鏡快速軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)。

LAFT是一套移動(dòng)測(cè)試站，主要用于在野外/倉(cāng)庫(kù)條件下工作的監(jiān)控型紅外熱像儀基本參數(shù)測(cè)試儀。

WAP是一套便攜式廣角投影系統(tǒng)，設(shè)計(jì)于測(cè)試寬視場(chǎng)的紅外成像儀。 其小尺寸設(shè)計(jì)和輕質(zhì)量結(jié)合是該系統(tǒng)的巨大優(yōu)勢(shì)。

SAFT是一套小型測(cè)試系統(tǒng)，主要用于測(cè)試短焦距的紅外熱像儀。 

非均勻性校準(zhǔn)

所有紅外熱成像儀均必須經(jīng)過(guò)工廠校準(zhǔn)，以生成非均勻性補(bǔ)償（NUC）系數(shù)，然后由紅外熱像儀實(shí)時(shí)自動(dòng)運(yùn)算以保持良好的圖像質(zhì)量。 NUC系數(shù)通常基于大面積黑體的圖像來(lái)計(jì)算，該黑體在兩種溫度下來(lái)充滿被測(cè)試紅外熱像儀的視場(chǎng)：1）高溫在約60℃至約120℃的范圍內(nèi)，并取決于紅外熱成像儀的類型。2）實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度（有時(shí)略微增加到約等于圖像傳感器溫度）。

Inframet提供DAP雙黑體作為紅外熱成像儀非均勻性校準(zhǔn)的低成本高效益解決方案。 DAP雙黑體實(shí)際上是一組兩個(gè)黑體：通常在高溫下操作的TCB黑體和在接近環(huán)境溫度下操作的PBB黑體。 以這種方式，DAP相當(dāng)于兩個(gè)黑體，通常使用兩點(diǎn)NUC，但成本僅略高于典型的TCB黑體。 同時(shí)，實(shí)現(xiàn)了DAP黑體的兩個(gè)發(fā)射器之間的超高精度溫差。